仪器名称：高分辨透射电子显微镜
仪器简介
英文名称：High Resolution Transmission Electron Microscope
规格型号：FEI Tecnai G220
生产厂家：荷兰FEI公司
单 价：400万元
安装日期：2010年5月
仪器配置
仪器配置：
电镜主体(含计算机一台)、绝缘气体(SF6气体)、相配套的稳压电源及循环冷却水箱作为必备配置，由电镜厂家提供。
灯丝：LaB6灯丝。
864多扫描CCD相机：用于高分辨照相和电子衍射照片的获取。
普通单样品台（1个）；普通多样品台（1个）；备品备件（1套）。
技术参数：
点分辨率：0.23nm
线分辨率：0.14nm
加速电压：80, 100, 120, 160, 200kV（100V/step连续可调）
放大倍率：LOW MAG模式（×50-6,000），MAG模式（×2,000-1,100,000）， SA MAG模式（×8,000-800,000）。
主要功能
利用质厚衬度(又称吸收衬度)像，对样品进行一般形貌观察；利用电子衍射、微区电子衍射、会聚束电子衍射物等技术对样品进行物相分析，从而确定材料的物相、晶系，甚至空间群；利用高分辨电子显微术可以直接“看”到晶体中原子或原子团在特定方向上的结构投影这一特点，确定晶体结构，大于100nm物体用低压、低分辨电镜即可观察。介于100nm-10nm之间的物体用高压、低分辨电镜勉强可见。小于10nm的物体必须选用高压、高分辨电镜才能够进行观察；利用衍衬像和高分辨电子显微像技术，观察晶体中存在的结构缺陷，确定缺陷的种类、估算缺陷密度;界面观察选用低压、低分辨电镜。位错观察可用高压、低分辨电镜，选用高压、高分辨为佳。层错观察选用高压、高分辨电镜。典位错观察方法是金相腐蚀法，指通过腐蚀使位错露头形成“蚀坑”，使其可见，是间接观察，效果较差。高压、低分辨透射电镜可以直接观察位错，效果好。高压、高分辨透射电镜可以直接观察位错，效果更好
应用范围
透射电子显微镜在材料科学、生物学上应用较多。由于电子易散射或被物体吸收，故穿透力低，样品的密度、厚度等都会影响到最后的成像质量，必须制备更薄的超薄切片，通常为50～100nm。所以用透射电子显微镜观察时的样品需要处理得很薄。
