型号： SMART APEXⅡ
厂商： 德国Bruker AXS公司
主要性能指标
SMART APEXⅡCCD：面探检测器
CCD类型：4K CCD
芯片面积：62 mm x 62 mm
像素数目：4096 x 4096
CCD 束锥比：1：1、无空间畸变
透光率：>70%
像素尺寸：≤15mm x 15mm
读出口：4个
数据读出时间： 0.16 s（512 x 512 模式）
最大动态范围：>25,000,000e/pixe
暗电流（噪音）：< 0.1 el/pixel/s增益；（灵敏度）>170e/Mo x-ray photon
晶体—探测器窗口距离：25－250mm 可调。
仪器功能及附件主要功能
SMART APEXⅡ X射线单晶衍射仪用以测定一个新化合物(晶态)分子的准确立体结构，从而给出详细的键长、键角、 构型、构像甚至成键电子密度及分子在晶格中的排列情况。在分子和原子水平上提供晶态物质的微观结构信息。
SMART APEXⅡ分析系统的探测器为目前国际最先进水平的二维面探检测器，即能进行1:1呈像的4K CCD为特色的突破性新型CCD系统，具有采集数据快速、无空间畸变和强度损失极小的特点。传统的四园单晶衍射仪测试一个样品需要3－7天，而SMART APEXⅡ单晶衍射仪只需要4－6小时，分析速度大为提高。同时SMART APEXⅡ的高灵敏度、高分辨率和低噪声有利于获得更多可观察反射点，更准确地确定结构，有利于检测反射能力极弱的小分子晶体结构测定。
仪器使用范围
单晶衍射仪能测定晶态分子的晶胞参数、晶系、空间群、晶胞中原子的三维分布、成键和非键原子间的距离和角度、价电子云分布、原子的热运动振幅、分子的构型和构象，绝对构型等。单晶衍射仪定出的结构，准确直观，具有权威性，是其他仪器无法替代的。该仪器用于化学、药物学、物理学、分子生物学、矿物学和材料科学等方面的分析研究。
