型号： XRD-6000
厂商： 日本Shimadzu公司
主要性能指标：
角度的重现性：±0.001o(2θ)
扫描角度范围：-6～+163 o(2θ); -180～+180 o(θ)；θ-轴回摆扫描为标准配置标准数据库。
仪器使用范围：
测定晶体结构的基本综合参数。晶粒大小测定；晶体结构；形貌研究；晶体模型显示；固体药品的参数；结晶度的研究；晶格常数测定定性与定量分析。测定不同的相，以及它们在每种多形中或在多组分中的含量。活性晶体基质中非晶。广泛应用于化学，钢铁、有色金属，机械制造，陶瓷、水泥及玻璃，催化剂、药物添加剂、生物制品石油、天然气、岩矿，环境、工业废物。 态填充剂的体积百分含量(V%)。
